更新時間：2022-04-18
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產(chǎn)品報價：
生產(chǎn)地址：深圳市
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子 |
同惠TH2839精密阻抗分析儀TH2839A簡介
■ TH2839系列采用阻抗測量范圍最寬的自動平衡電橋技術(shù)，其0.05%的基本精度、20Hz—10MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料的測量要求，是電子元器件設(shè)計、檢驗、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試的強(qiáng)有力工具。它的優(yōu)良性能和功能為電路的設(shè)計和開發(fā)以及材料(電子材料和非電子材料)的研究和開發(fā)提供了強(qiáng)有力的工具。TH2839以其的性能可以實現(xiàn)商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和標(biāo)準(zhǔn)如IEC和MIL標(biāo)準(zhǔn)的各種測試。
功能特點
A. 高精度
自動平衡電橋與普通LCR電橋相比，它能在更寬的頻率范圍內(nèi)保證更高的頻率精度！下圖以同惠電橋為例，對比了自動平衡電橋與普通電橋在0-10MHz頻率范圍內(nèi)的精度差別。目前同惠的自動平衡電橋有TH2839系列、TH2838系列和TH2828系列。
同惠TH2839精密阻抗分析儀TH2839A應(yīng)用
■ 無源元件:
電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析
■ 半導(dǎo)體元件:
LED驅(qū)動集成電路寄生參數(shù)測試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析
■ 其它元件:
印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估
■ 介質(zhì)材料:
塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估
■ 磁性材料:
鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評估
■ 半導(dǎo)體材料:
半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性液晶材料：液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品型號 | TH2839 | TH2839A | |||||||
測試信號源 | |||||||||
信號源輸出阻抗 | 100Ω， ±1% @1kHz | ||||||||
測試頻率 | 范圍 | 20Hz-10MHz | 20Hz-5MHz | ||||||
分辨率 | 20.0000Hz - 99.9999Hz 1mHz | ||||||||
100.000Hz - 999.999Hz 10mHz | |||||||||
1.00000kHz - 9.99999kHz 100mHz | |||||||||
10.0000kHz - 99.9999kHz 1Hz | |||||||||
100.000kHz - 999.999kHz 10Hz | |||||||||
1.00000MHz - 10.00000MHz 100Hz | |||||||||
AC測試信號模式 | 額定值(ALC OFF)：設(shè)定電壓為測試端開路時Hcur電壓，設(shè)定電流為測試端短路時從Hcur流出電流 恒定值(ALC ON)： 保持DUT上電壓與設(shè)定值相同，保持DUT上電流與設(shè)定值相同 | ||||||||
AC信號 | 電壓范圍 | F≤2MHz 5mVrms-- 2Vrms F >2MHz 5mVrms -- 1Vrms | |||||||
分辨率 | 5mVrms -- 0.2Vrms 100µVrms | ||||||||
0.2Vrms -- 0.5Vrms 200µVrms | |||||||||
0.5Vrms -- 1Vrms 500µVrms | |||||||||
1Vrms -- 2Vrms 1mVrms | |||||||||
電流范圍 | 50µArms -- 20mArms | ||||||||
分辨率 | 50µArms -- 2mArms 1µArms | ||||||||
2mArms -- 5mArms 2µArms | |||||||||
5mArms -- 10mArms 5µArms | |||||||||
10mArms -- 20mArms 10µArms | |||||||||
Rdc測試 | 電壓范圍 | 100mV — 2V | |||||||
分辨率 | 100µV | ||||||||
電流范圍 | 0mA— 20mA | ||||||||
分辨率 | 1µA | ||||||||
DC偏置 | 電壓范圍 | 0V — ± 40V | |||||||
分辨率 | 0V -- 5V 100µV | ||||||||
5V -- 10V 1mV | |||||||||
10V -- 20V 2mV | |||||||||
20V -- 40V 5mV | |||||||||
電流范圍 | 0mA— ± 100mA | ||||||||
分辨率 | 0 A -- 50mA 1µA | ||||||||
50mA -- 100mA 10µA | |||||||||
電壓源 | 電壓范圍 | -10V -- 10V | |||||||
分辨率 | 1mV | ||||||||
電流范圍 | -45mA -- +45mA | ||||||||
輸出阻抗 | 100Ω | ||||||||
顯示器 | |||||||||
尺寸/類型 | 7英寸 (對角線)TFT LCD顯示器 | ||||||||
比例 | 16：9 | ||||||||
分辨率 | 800×RGB×480 | ||||||||
測量功能 | |||||||||
測試參數(shù) | Cp-D,Cp-Q,Cp-G,Cp-Rp Cs-D,Cs-Q,Cs-Rs Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-Rdc Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc, Rdc R-X, Z-θd, Z-θr G-B, Y-θd, Y-θr Vdc-Idc | ||||||||
數(shù)學(xué)功能 | A(X+B)+C， X為測試參數(shù)，A、B、C為輸入?yún)?shù) | ||||||||
等效電路 | 串聯(lián)、并聯(lián) | ||||||||
偏差測量 | 與標(biāo)稱值的絕對偏差Δ，與標(biāo)稱值的百分比偏差Δ% | ||||||||
校準(zhǔn)功能 | 開路OPEN、短路SHORT、負(fù)載LOAD | ||||||||
量程選擇 | 自動AUTO、手動HOLD | ||||||||
量程 | LCR | 100mΩ、1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、 100kΩ，共15檔 | |||||||
Rdc | 1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ，共15檔 | ||||||||
觸發(fā)模式 | INT、MAN、EXT、BUS | ||||||||
觸發(fā)延遲 | 0 s -- 999 s，分辨率100us | ||||||||
測試端配置 | 四端對 | ||||||||
測試電纜長度 | 0m, 1m, 2m | ||||||||
測量平均 | 1-255次 | ||||||||
測量時間 (ms) | 速度模式 | 20Hz | 100Hz | 1kHz | 10kHz | 100kHz | 1MHz | 10MHz | |
FAST | 330 | 100 | 20 | 7.7 | 5.7 | 5.6 | 5.6 | ||
MED | 380 | 180 | 110 | 92 | 89 | 88 | 88 | ||
LONG | 480 | 300 | 240 | 230 | 220 | 220 | 220 | ||
測量顯示范圍 a 1×10-18； E 1×1018 | |||||||||
Cs, Cp | ±1.000000 aF -- 999.9999 EF | ||||||||
Ls,Lp | ±1.000000 aH -- 999.9999 EH | ||||||||
D | ±0.000001 -- 9.999999 | ||||||||
Q | ±0.01 -- 99999.99 | ||||||||
R, Rs, Rp, X, Z, Rdc | ±1.000000 aΩ -- 999.9999 EΩ | ||||||||
G,B,Y | ±1. 000000 aS -- 999.9999 ES | ||||||||
Vdc | ±1.000000 aV -- 999.9999 EV | ||||||||
Idc | ±1.000000 aA -- 999.9999 EA | ||||||||
θ r | ±1.000000 a rad -- 3.141593 rad | ||||||||
θ d | ±0.0001 deg -- 180.0000 deg | ||||||||
Δ% | ±0.0001% -- 999.9999% | ||||||||
t | -99.99℃ -- 1000.00℃ | ||||||||
Turn Ratio (待擴(kuò)展) | ±0.000000 -- 1000.000 | ||||||||
基本測量準(zhǔn)確度 | 0.05%(詳見說明書) | ||||||||
列表掃描 | |||||||||
掃描點數(shù) | 最多201點 | ||||||||
掃描參數(shù) | 測試頻率、AC電壓、AC電流、DC BIAS電壓、DC BIAS電流 | ||||||||
第二掃描參數(shù) | 無、量程方式、測試頻率、AC電壓、AC電流、DC BIAS電壓、DC BIAS電流、直流源電壓。 注：已選擇的第一掃描參數(shù)參數(shù)不能再選為第二掃描參數(shù)。 | ||||||||
觸發(fā)模式 | 順序SEQ | 當(dāng)一次觸發(fā)后，在所有掃描點測量。/EOM/INDEX只輸出一次。 | |||||||
步進(jìn)STEP | 每次觸發(fā)執(zhí)行一個掃描點測量。每點均輸出/EOM/INDEX，但列表掃描比較器結(jié)果只在最后的/EOM才輸出。 | ||||||||
列表掃描比較器 | 可為每個掃描點設(shè)置一對下限和上限。 可選擇：通過第一掃描參數(shù)判斷/通過第二參數(shù)判斷/不用于每一極限。 | ||||||||
列表掃描時間標(biāo)記 | 在順序模式中，將觸發(fā)點設(shè)定為0時，通過定義時間就可在每個測量點記錄測量開始的時間。 | ||||||||
圖形掃描分析 | |||||||||
掃描點數(shù) | 51、101、201、401、801點可選 | ||||||||
掃描軌跡 | 主/副參數(shù)可選擇 | ||||||||
顯示范圍 | 自動、鎖定 | ||||||||
坐標(biāo)標(biāo)尺 | 對數(shù)、線性 | ||||||||
掃描參數(shù) | 頻率、ACV、ACI、DCV BIAS/DCI BIAS、直流電壓源 | ||||||||
掃描結(jié)果顯示 | 主/副參數(shù)最大值/最小值、設(shè)定點主/副參數(shù)值 | ||||||||
掃描圖形存儲 | 掃描圖形可存儲于儀器內(nèi)部FLASH、外部USB存儲器或上傳上位機(jī)。 | ||||||||
比較器 | |||||||||
Bin分檔 | 主參數(shù) | 9 BIN、OUT_OF_BINS、AUX_BIN和LOW_C_REJECT | |||||||
副參數(shù) | HIGH、IN、LOW | ||||||||
Bin極限設(shè)置 | 絕對值、偏差值、百分偏差值 | ||||||||
Bin計數(shù) | 0 -- 999999 | ||||||||
PASS/FAIL指示 | 滿足主參數(shù)為9 BIN之一、副參數(shù)為IN，前面板PASS燈ON，否則FAIL ON | ||||||||
測量輔助功能 | |||||||||
數(shù)據(jù)緩沖存儲功能 | 201個測量結(jié)果可分批讀取 | ||||||||
保存/調(diào)用功能 | 40組儀器內(nèi)置非易失存儲器測試設(shè)定文件 500組儀器USB存儲器測試設(shè)定文件/截屏圖形/記錄文件 | ||||||||
鍵盤鎖定功能 | 可鎖定前面板按鍵 | ||||||||
接口 | |||||||||
USB HOST端口 | 通用串行總線插座，A類；FAT16/FAT32格式。U盤存儲或條形碼掃描 | ||||||||
USB DEVICE端口 | 通用串行總線插座，小型B類（4個接觸位置）；與USBTMC-USB488和USB 2.0相符合，陰接頭用于連接外部控制器。 | ||||||||
LAN | 10/100BaseT以太網(wǎng)，8引腳，兩種速度選擇 | ||||||||
HANDLER接口 | 用于Bin分檔信號輸出 | ||||||||
外部DC BIAS控制 | 控制TH1778/TH1778S偏置電流源，最多一臺TH1778+5臺TH1778S (120A MAX) | ||||||||
RS232C | 標(biāo)準(zhǔn)9針，交叉 | ||||||||
GPIB (選件) | 24針D-Sub端口（D-24 類），陰接頭與IEEE488.1、2和SCPI兼容。 | ||||||||
SCANNER(選件) | 與TH2819X、TH2829X SCANNER接口兼容 | ||||||||
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